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光源研發(fā)和測試的“好伙伴”—Ceyear 6362D光譜分析儀

更新時間:2024-08-05      點擊次數(shù):127

光源作為一種基礎的設備,在光通信、激光雷達、激光切割、激光醫(yī)療等各行各業(yè)廣泛使用。在光源的研發(fā)、生產(chǎn)和測試過程中,面臨測試速度慢、邊模小信號尋找難、測試效率低等突出的問題。為解決上述問題,思儀科技的Ceyear 6362D光譜分析儀開發(fā)了針對性的測試功能。

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1.解決測試速度的問題


對于光源生產(chǎn)過程,往往需要更快的測試速度,來提高測試,生產(chǎn)效率,通常通過改變采樣點數(shù),靈敏度,掃描速度等操作,當Ceyear 6362D在“X2"速度模式下,單次掃描時間最快可達200ms,保證測試精度的同時,可以滿足光源生產(chǎn)線的高速測試需求,節(jié)省工時成本。


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2.解決精準測試問題 

在研發(fā)過程中,需要更精準的測試,Ceyear 6362D在“HIGH3"靈敏度下,動態(tài)范圍最高可達78dB,可測得-90dBm的光譜,能夠探測到功率更低的光信號,從而分辨出被淹沒的邊摸等小信號。

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3.提升測試效率的途徑

Ceyear 6362D提供多種自動分析功能,例如DFB光源分析功能(如下圖中所示)、LED光源分析功能、FP光源分析功能等,一次自動分析就可以得到多項激光器指標。同時,相關參數(shù)和測試結(jié)果也支持通過LAN、GPIB遠程控制,可以大大提高測試效率。


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作為新一代、高性能近紅外光譜分析儀,Ceyear 6362D在大幅度提升測試效率的同時,測試分辨率、動態(tài)范圍得到大幅度提升,更加滿足各類光源的測試分析需求,為用戶提供更好的測試體驗。




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